供应高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80

高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80
 
一、	产品简介 
高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。测量频率范围20KHz-100MHz，附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。
高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。



       
二、	主要技术指标     
1.	中心频率范围： 20KHz-100MHz任意设定    
2.	负载电容：4-20P 任意设定
3.	负载谐振电阻：1Ω-300Ω  1K-300K
4.	PPm范围测量：±300ppm 
5.	PPm测量精度：< 0.5ppm
6.	时基频率：16.384M     
7.	晶振稳定性：2×10-8 /日   
8.	体积：80×235×305（mm）
9.	保修期：三年